| 仪器名称 | X射线光电子能谱仪 |
| 型号 | Axis Supra |
| 生产厂家 | 日本岛津 |
| 主要性能 | 1.定性：X射线光电子能谱(XPS)可以定性检测元素周期表中除H和He以外的几乎所有元素种类及价态信息 2.定量：属于半定量，表面灵敏型测试深度小于10纳米 3.成像：元素XPS二维成像，200-800微米范围。 |
| 主要指标 | 1. Al/Ag单色化双阳极XPS，功率：600W；分析面积：Φ15μm—700 um x300um; Al Ka X射线：能量分辨率0.48eV(Ag 3d5/2); Ag Ka X射线：能量分辨率0.9eV(Ag 3d5/2) 2. Al /Mg 非单色化双阳极XPS，功率：450W，能量分辨率0.8eV(Ag 3d5/2) 3. XPS成像空间分辨率3μm 4. He灯紫外光电子能谱UPS，能量分辨：Ag费米边（20%～80%）优于120meV；灵敏度：Ag4d峰优于1Mcps 5. 多模式(Ar/Ar团簇)离子枪：500eV—5keV连续可调（Ar），1keV—20keV连续可调（Ar团簇） |
| 主要附件 | |
| 可测定样品 | 1.用于测量表面化学组成及化学态 2.深度剖析 3.微区定性及半定量分析 4.表面化学图像 |
| 使用注意事项 | 样品要求: a.样品:少量干燥的粉末样品,小面积或固体 b.不含腐蚀性(酸处理后残留)、易挥发性（有异味）、磁性及放射性物质 c.样品要求真空干燥,样品用酸处理过要洗净、不能有气味 d.表面元素检测限约为0.1%~1.0%(原子比) e.固体样品面积≤1.0cm2, 高(厚)度≤3.0mm |
| 存放地点 | 分析测试中心104室
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| 负责人 | 黄天为 |
| 联系电话 | 0931-89102284，13893408662 |
| Huangtw@lzu.edu.cn |
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