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材料类样品测样须知

扫描电镜测样须知:

1.试样可以是块状或粉末颗粒,且在真空中能保持稳定;

2.样品应导电,不导电的样品可采用镀膜、低真空、低电压等技术观察;

3.样品的大小应适合在样品台上放置及移动,较大的样品需进行切割,确定好取样部位;

4.测试过程中应保持安静,无关人员不得进入仪器间;

5.确保每次进样前点击Home一次,以免造成样品杆和样品台的机械损坏;

6.确保进样前样品台旋紧于螺杆上,以免将样品掉入样品室。

透射电镜测样须知:

1.样品一般应为厚度小于100nm的固体;

2.样品在电镜电磁场作用下不会被吸出,附于极靴上;

3.样品在高真空中能保持稳定;

4.不含有水分或其它易挥发物,含有水分或其他易挥发物的试样应先烘干;

5.纳米粉末样品的制备方法主要有研磨法和树脂包埋法。 块体样品的制备方法主要有离子减薄和电解双喷;

6.根据不同需要,选择合适的载网(如方华支持膜、碳支持膜、微栅、超薄碳膜、纯碳膜或双联载网支持膜)。

原子力显微镜测样须知:

1.AFM的研究对象可以是有机固体、聚合物 以及生物大分子等。对样品导电性无要求。适用于多种环境,可在真空,空气和溶液中进行。

2.测量前要按照先开硬件再开软件的原则开机,以免造成开机后的软件报错;

3.扫描头属于核心精密部件,务必轻拿轻放。

4.探针较易损坏且价格昂贵,需严格按照操作程序操作

5.仪器使用完毕后取下样品,抬高扫描头,关闭电脑和显示器

红外光谱测样须知:

1.可用于气态、液态、固态、薄膜样品等的红外透射与反射光谱测量;

2.仪器中有很多部件为KBr材质的,在潮湿环境下容易潮解,导致仪器损坏,故请务必保持仪器间干燥,同时使用完成后保持仪器真空状态;

3.测量前要按照先开硬件再开软件的原则开机,以免造成开机后的软件报错;

4.红外附件较多,使用时请根据不同样品,不同需要正确选择;

5.仪器使用完成后,退出软件,关闭电脑及显示器,然后再关闭主机。

拉曼光谱测样须知:

1.可测试固体、液体、粉末、薄膜、颗粒、胶状等样品的拉曼光谱,并具有二维成像功能。通过测试并分析材料的拉曼光谱,对材料进行结构分析、成分鉴别、缺陷研究、掺杂研究、均匀性研究等;

2.测量前要按照先开硬件再开软件的原则开机,以免造成开机后的软件报错;

3.开机完成后,测量前需先进行单晶硅的测量,从而对仪器进行矫正;

4.测量聚焦过程中要防止样品碰到物镜,以免造成物镜损伤或污染;

5.测量完成后关机,关机顺序与开机相反,为先软件后硬件的原则。同时务必保证激光器的关闭,以免影响激光器寿命或发生火灾。

成像型椭偏仪测样须知:

1.可用于有机薄膜,聚合物,各向异性薄膜,光学涂层,磁性膜等的膜厚、折射率和吸附测量

2.测量前要按照先开硬件再开软件的原则开机,以免造成开机后的软件报错;

3.测量过程中要防止眼睛直视激光,以免造成人身伤害;

4.测量过程中对样品务必轻拿轻放,防止其碰到镜头;

5.测量完成后关机,关机顺序与开机相反,为先软件后硬件的原则。


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